9783540232490 - infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: phonons, plasmons, and polaritons (springer tracts in modern physics, 209, band 209) von schubert, mathias (1 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2004
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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