9783319998244 - lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials (springer series in advanced microelectronics, 10, band 10) von breitenstein, otwin; warta, wilhelm; schubert, martin c. (4 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer., 2018
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, DeutschlandUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht
EUR 17,00
EUR 30,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
3rd Edition. xxi, 321 p. Hardcover. 3rd Edition. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 165,57
EUR 13,97 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 175,09
EUR 63,41 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulatin…g heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 248,32
EUR 14,58 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
