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9783319951379 - Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) (5 Ergebnisse)
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![Beispielbild für Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W. zum Verkauf von SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783319951379-de-300.jpg)
Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214, Band 2) [Hardcover] Fujiwara, Hiroyuki and Collins, Robert W.
Buch 211 von 235: Springer Series in Optical SciencesAnbieter: SpringBooks, Berlin, Deutschland
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Hardcover. Zustand: Very Good. 1. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics. Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials.
Buch 211 von 235: Springer Series in Optical SciencesAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
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Hardcover. XXI, 616. 330 illus., 204 illus. in color Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02007 9783319951379 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1150.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials (Springer Series in Optical Sciences, 214)
Buch 211 von 235: Springer Series in Optical SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics : Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Buch 211 von 235: Springer Series in Optical SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319951378 ISBN 13: 9783319951379
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.
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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials
Buch 211 von 235: Springer Series in Optical SciencesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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