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Taschenbuch. Zustand: Neu. Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits | Ran Wang (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319854618 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.