Isbn: 9783031591952 - silicon components and processes self study: field-effect transistors (2 Ergebnisse)

ISBN
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (2)

  • Neu (2)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2025

      303159195X / 9783031591952

      • Softcover

      Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 68,35

      EUR 70,00 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 5 verfügbar

      Taschenbuch. Zustand: Neu. Silicon Components and Processes Self Study | Field-Effect Transistors | Badih El-Kareh (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2025 | Springer | EAN 9783031591952 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2025

      303159195X / 9783031591952

      • Softcover

      Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 107,94

      EUR 30,50 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is one of a series of five volumes forming an integrated, self-study course on silicon device physics, modes of operation, characterization, and fabrication. The series is based on many years of the author's experience in academic and industrial teaching of semiconductors. The books are suitable for both class-teaching and self-study. The authors have designed the content to enable readers to be introduced gradually to semiconductors, in particular silicon components. The presentation includes many illustrations, practical examples, review questions and problems at the end of each chapter. Answers to review questions and solutions to problems will be provided for 'self-check'.