9783030692087 - design for testability, debug and reliability: next generation measures using formal techniques von huhn, sebastian; drechsler, rolf (5 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 116,57
EUR 13,99 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 169,52
EUR 11,68 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 185 pages. 9.25x6.10x0.75 inches. In Stock.
- Weitere Bilder
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 125,24
EUR 62,27 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising ch…allenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 87,94
EUR 105,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising chall…enges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
- Hardcover
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 259,90
EUR 39,95 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: gut. 2021. Design for Testability, Debug and Reliability In deutscher Sprache. pages.
