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9783030200503 - Circadian Rhythms for Future Resilient Electronic Systems: Accelerated Active Self-Healing for Integrated Circuits von Guo, Xinfei; Stan, Mircea R. (5 Ergebnisse)
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Circadian Rhythms for Future Resilient Electronic Systems. Accelerated Active Self-Healing for Integrated Circuits.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
XIX, 208 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Circadian Rhythms for Future Resilient Electronic Systems: Accelerated Active Self-Healing for Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,41
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Circadian Rhythms for Future Resilient Electronic Systems: Accelerated Active Self-Healing for Integrated Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,22
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 230 pages. 9.25x6.10x0.67 inches. In Stock.
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Circadian Rhythms For Future Resilient
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Circadian Rhythms for Future Resilient Electronic Systems : Accelerated Active Self-Healing for Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030200507 ISBN 13: 9783030200503
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes methods to address wearout/aging degradations in electronic chips and systems, caused by several physical mechanisms at the device level. The authors introduce a novel technique called accelerated active self-healing, which fixes wearout issues by enabling accelerated recovery. Coverage includes recovery theory, experimental results, implementations and applications, across multiple nodes ranging from planar, FD-SOI to FinFET, based on both foundry provided models and predictive models. Presents novel techniques, tested with experiments on real hardware;Discusses circuit and system level wearout recovery implementations, many of these designs are portable and friendly to the standard design flow;Provides circuit-architecture-system infrastructures that enable the accelerated self-healing for future resilient systems;Discusses wearout issues at both transistor and interconnect level, providing solutions that apply to both;Includes coverage of resilient aspects of emerging applications such as IoT.
