Isbn: 9781613530146 - spectrum and network measurements (electromagnetic waves) (6 Ergebnisse)

ISBN
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (6)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Sprache: Englisch

    Verlag: SciTech Publishing, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USAThriftBooks-Dallas

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Gebraucht - Befriedigend

    EUR 47,82

     Versand gratis 
    Versand innerhalb von USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Hardcover. Zustand: Good. No Jacket. Missing dust jacket; Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: SciTech Publishing, Incorporated, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USABetter World Books: West

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Gebraucht - Befriedigend

    EUR 48,21

     Versand gratis 
    Versand innerhalb von USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Zustand: Good. 2nd Edition. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Scitech Publishing, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 92,89

    EUR 13,15 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. In.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Scitech Pub Inc, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 130,28

    EUR 14,56 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Hardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 336 pages. 10.00x7.00x1.00 inches. In Stock.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: SciTech Publishing Inc, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 96,55

    EUR 48,99 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Gebunden. Zustand: New. &Uumlber den AutorrnrnRobert A. Witte received a BSEE degree from Purdue University and MSEE degree from Colorado State University. He has spent his entire career in the test and measurement industry, working for Hewlett-Packard, Agilent Tec.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Institution Of Engineering & Technology Okt 2014, 2014

    1613530145 / 9781613530146

    • Hardcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 123,31

    EUR 30,50 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Buch. Zustand: Neu. Neuware - This updated edition of the industry's classic text combines the theory, practice, and latest technology of spectrum and network measurements in electronic systems to offer a comprehensive and easy way to understand frequency domain measurements. Spectrum and Network Measurements, 2nd Edition has been completely updated to take into account the latest technology, particularly focusing on the shift from analog to digital in communication systems, plus an important new chapter on EMC measurements of radiated and conducted emissions has also been added. Using simplified block diagrams, this book offers a thorough coverage of critical concepts, such as decibels, Fourier analysis, noise effects, impedance matching, intermodulation distortion, reflection measurements, and S-Parameters. By picking up where the majority of electrical engineering programs stop, this title takes basic EE theory and translates it to the world of electronic measurements. This enables the reader to understand the basic theory of signals and systems, relate it to measured results, and apply it when creating new designs.