Isbn: 9781493982691 - scanning electron microscopy and x-ray microanalysis (4 Ergebnisse)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Joseph I. Goldstein (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9781493982691 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
