Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489989529 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2014
ISBN 10: 1489989528 ISBN 13: 9781489989529
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.