ISBN: 9781489982117 - reliability of microtechnology: interconnects, devices and systems (2 Ergebnisse)
von James E. Morris
Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems
Liu, Johan; Salmela, Olli; Sarkka, Jussi; Morris, James E.; Tegehall, Per-Erik; Andersson, Cristina
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Reliability of Microtechnology | Interconnects, Devices and Systems | Johan Liu (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489982117 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
