9781475784749 - high performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test (frontiers in electronic testing) von adams, r. dean dean (3 Ergebnisse)
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Verlag: Springer, 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 12 von 40. Buch 12 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Taschenbuch. Zustand: Neu. High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test | R. Dean Adams | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475784749 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com… | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories w…ere small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.
