ISBN: 9781475740516 - high-resolution x-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures (1 Ergebnisse)

von Ullrich Pietsch

ISBN:

Mit der Detailsuche verfeinern

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav; Baumbach, Tilo
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
1475740514 / 9781475740516
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in mit 5 Sternen
Verkäufer/-in kontaktieren
Zustand: Neu
EUR 61,87
EUR 13,48 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In English.