9781468474039 - advances in x-ray analysis: volume 3 proceedings of the eighth annual conference on applications of x-ray analysis held august 12–14, 1959 von mueller, william m. (5 Ergebnisse)

- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, , Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 79,88
EUR 14,47 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. 384 pages. 9.10x6.00x1.00 inches. In Stock.

- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 48,37
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.

- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 91,07
EUR 13,86 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Weitere Bilder- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 50,35
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 3 Proceedings of the Eighth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 12-14, 1959 | William M. Mueller | Taschenbuch | viii | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781468474039 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergarten…str. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 59,97
EUR 62,81 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - It is interesting to observe the ever increasing versatility of X-ray analysis as evidenced by the wide range of application to the myriads of problems confronting the technological com munity, a versatility limited only by the imagination and inge n…uity of the scientist, the designer of X-ray equipment, and the novice or student. Tomorrow's engineering alloys will undoubt edly be influenced by today's extremely low- and very high-tem perature X-ray research. New and continued insight into the basic architecture of crystalline materials is being achieved by studies of lattice imperfection, recrystallization habit, and phase transformation. Techniques for identification and analysis of minerals by X-ray diffraction and fluorescence are equally ame nable to pathological and physiological diagnosis. The experi mental setup of this month may well become an instrument for routine process control next month. And such developments occur so rapidly iIi so many different laboratories that it is difficult to keep abreast of this tidal wave of information. The dictates of this nation's economy and its struggle for technological supremacy demand a full awareness of the ac complishments of one's associates. Such awareness is most effectively obtained through personal contact. where the beginner can benefit from the experiences of the expert, the basic re searcher and the applied researcher can exchange views, and the creative research of each is nurtured by the sharing of mutual or associated problems.