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9781461461623 - Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing) von Maricau, Elie; Gielen, Georges (3 Ergebnisse)
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2013 edition. 214 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingSprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2013
ISBN 10: 1461461626 ISBN 13: 9781461461623
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.
