9781461407874 - statistical performance analysis and modeling techniques for nanometer vlsi designs von shen, ruijing; tan, sheldon x.-d.; yu, hao (3 Ergebnisse)

ISBN

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (3)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2012

      1461407877 / 9781461407874

      • Hardcover

      Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 117,41

      EUR 14,10 Versand 
      Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

      Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

      Zustand: New. In.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer New York, Springer US, 2012

      1461407877 / 9781461407874

      • Hardcover

      Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 111,53

      EUR 63,35 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to the architecture level have bec

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer New York, 2012

      1461407877 / 9781461407874

      • Hardcover

      Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Gebraucht

      EUR 83,08

      EUR 105,00 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to th