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9781441982964 - Test and Diagnosis for Small-Delay Defects von Tehranipoor, Mohammad; Peng, Ke; Chakrabarty, Krishnendu (3 Ergebnisse)
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
