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9781441982964 - Test and Diagnosis for Small-Delay Defects von Tehranipoor, Mohammad; Peng, Ke; Chakrabarty, Krishnendu (4 Ergebnisse)
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Testing and Diagnosis for Small-Delay Defects.
Sprache: Englisch
Verlag: New York, Springer New York., 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
XVIII, 212 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Sprache: Englisch.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 232 pp. Englisch.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
