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9781441965677 - Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy (6 Ergebnisse)
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Scanning Probe Microscopy Of Functional Materials: Nanoscale Imaging And Spectroscopy
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials : Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York, 2010
ISBN 10: 144196567X ISBN 13: 9781441965677
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors. Many recent advances in condensed matter physics and materials science, including transport mechanisms in carbon nanostructures and the role of disorder on high temperature superconductivity, would have been impossible without SPM. The unique aspect of SPM is its potential for imaging functional properties of materials as opposed to structural characterization by electron microscopy. Examples include electrical transport andmagnetic, optical, and electromechanical properties.By bringing together critical reviews by leading researchers on the application of SPM to to the nanoscale characterization of functional materials properties, this bookprovides insight into fundamental and technological advances and future trends in key areas of nanoscience and nanotechnology.
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Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 600 pages. 9.20x6.40x1.10 inches. In Stock.
