9781402076725 - advanced verification techniques: a systemc based approach for successful tapeout von singh, leena; drucker, leonard (4 Ergebnisse)

ISBN

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (4)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2004

      140207672X / 9781402076725

      • Hardcover

      Anbieter: Books From California, Simi Valley, CA, USABooks From California

      Verkäufer/-in mit 4 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Gebraucht - Gut

      EUR 102,92

      EUR 4,36 Versand 
      Versand innerhalb von USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      hardcover. Zustand: Very Good.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2004

      140207672X / 9781402076725

      • Hardcover

      Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 166,94

      EUR 14,09 Versand 
      Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

      Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

      Zustand: New. In.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, 2004

      140207672X / 9781402076725

      • Hardcover

      Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Gebraucht - Sehr gut

      EUR 83,54

      EUR 105,00 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 396 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | "As chip size and complexity continues to grow exponentially, the challenges of functional verification are becoming a critical issue in the electronics industry. It is now commonly heard that logical errors missed during functional ver

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, Copernicus, 2004

      140207672X / 9781402076725

      • Hardcover

      Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

      Verkäufer/-in mit 5 Sternen
      Verkäufer/-in kontaktieren

      Zustand: Neu

      EUR 168,73

      EUR 63,81 Versand 
      Versand von Deutschland nach USA

      Anzahl: 1 verfügbar

      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - 'As chip size and complexity continues to grow exponentially, the challenges of functional verification are becoming a critical issue in the electronics industry. It is now commonly heard that logical errors missed during functional verification are the mos