9781402070761 - thermal testing of integrated circuits von altet, j.; rubio, antonio (7 Ergebnisse)

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    Verlag: Springer, 2002

    1402070764 / 9781402070761

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    1402070764 / 9781402070761

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    Hardcover. Zustand: Gut. 204 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 9781402070761 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.

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    Verlag: Springer, 2002

    1402070764 / 9781402070761

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    Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds o

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Kluwer Academic Pub, 2002

    1402070764 / 9781402070761

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    Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 224 pages. 9.50x6.25x0.50 inches. In Stock.

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    Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002

    1402070764 / 9781402070761

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    Zustand: New. Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purpose

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer US, Springer US, 2002

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    Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of