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9781119477136 - Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques von Dunsmore, Joel P. (8 Ergebnisse)
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Handbook of Microwave Component Measurements
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dr. Joel P. Dunsmore, Research Fellow at Keysight Technologies, California, USASince graduating from Oregon State University with a BSEE (1982) and an MSEE (1983), Joel Dunsmore has worked for Keysight Technologies (formerly Agilent Technologies, and Hewlet.
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Handbook of Microwave Component Measurements with Advanced VNA Techniques 2Ed
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 806 pages. 9.75x6.75x1.75 inches. In Stock.
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Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Handbook of Microwave Component Measurements with Advanced VNA Techniques 2Ed
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Handbook of Microwave Component Measurements : with Advanced VNA Techniques
Sprache: Englisch
Verlag: John Wiley & Sons Inc Jun 2020, 2020
ISBN 10: 1119477131 ISBN 13: 9781119477136
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Handbook of Microwave Component Measurements Second Edition is a fully updated, complete reference to this topic, focusing on the modern measurement tools, such as a Vector Network Analyzer (VNA), gathering in one place all the concepts, formulas, and best practices of measurement science. It includes basic concepts in each chapter as well as appendices which provide all the detail needed to understand the science behind microwave measurements. The book offers an insight into the best practices for ascertaining the true nature of the device-under-test (DUT), optimizing the time to setup and measure, and to the greatest extent possible, remove the effects of the measuring equipment from that result. Furthermore, the author writes with a simplicity that is easily accessible to the student or new engineer, yet is thorough enough to provide details of measurement science for even the most advanced applications and researchers. This welcome new edition brings forward the most modern techniques used in industry today, and recognizes that more new techniques have developed since the first edition published in 2012. Whilst still focusing on the VNA, these techniques are also compatible with other vendor's advanced equipment, providing a comprehensive industry reference.
