Isbn: 9781119417583 - an introduction to surface analysis by xps and aes (6 Ergebnisse)

- Hardcover
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes KönigreichPBShop.store UK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 73,82
EUR 5,84 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 15 verfügbar
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 84,20
EUR 13,13 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In English.

- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 98,79
EUR 7,56 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New.

- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 120,53
EUR 9,22 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. 2019. 2nd. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.

- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 85,41
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Gebunden. Zustand: New. John F. Watts FREng is Professor of Materials Science in the Department of Mechanical Engineering Sciences at the University of Surrey. He currently leads a Research Group applying surface analysis methods to investigations in materials science and is Edito.

- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 116,38
EUR 35,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Provides a concise yet comprehensive introduction to XPS and AES techniques in surface analysis This accessible second edition of the bestselling book, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition explores the basic principles and applications of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES) techniques. It starts with an examination of the basic concepts of electron spectroscopy and electron spectrometer design, followed by a qualitative and quantitative interpretation of the electron spectrum. Chapters examine recent innovations in instrument design and key applications in metallurgy, biomaterials, and electronics. Practical and concise, it includes compositional depth profiling; multi-technique analysis; and everything about samples-including their handling, preparation, stability, and more. Topics discussed in more depth include peak fitting, energy loss background analysis, multi-technique analysis, and multi-technique profiling. The book finishes with chapters on applications of electron spectroscopy in materials science and the comparison of XPS and AES with other analytical techniques. Extensively revised and updated with new material on NAPXPS, twin anode monochromators, gas cluster ion sources, valence band spectra, hydrogen detection, and quantification Explores key spectroscopic techniques in surface analysis Provides descriptions of latest instruments and techniques Includes a detailed glossary of key surface analysis terms Features an extensive bibliography of key references and additional reading Uses a non-theoretical style to appeal to industrial surface analysis sectors An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition is an excellent introductory text for undergraduates, first-year postgraduates, and industrial users of XPS and AES.…