Isbn: 9780818687860 - tutorial: test generation for vlsi chips (2 Ergebnisse)

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    Verlag: IEEE Computer Society Press,U.S., 1988

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    4°, Gebundene Ausgabe. Zustand: Sehr gut. 400 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht berieben, Papier in altersgemäßem sehr gutem Zustand. B02-03-01F Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1305.

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    Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.