9780792391654 - neural models and algorithms for digital testing (the springer international series in engineering and computer science, 140, band 140) von chadradhar, s.t.; agrawal, vishwani; bushnell, m. (3 Ergebnisse)
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
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Zustand: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from the… US and Ireland.
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Gebunden. Zustand: New. References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . .
