9780792390589 - hierarchical modeling for vlsi circuit testing (the springer international series in engineering and computer science, 89, band 89) von bhattacharya, debashis; hayes, john p. (2 Ergebnisse)
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Zustand: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 160 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 940. . 1989. Hardback. . . . . Books ship from the…US and Ireland.
