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9780792390251 - Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73, Band 73) von Kwang-Ting (Tim) Ch... (5 Ergebnisse)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
Anbieter: avelibro OHG, Dinkelscherben, Deutschland
Verbandsmitglied: BOEV
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
8° , Hardcover/Pappeinband. Zustand: Sehr gut. XII, 148 Seiten. Mit Illustrationen. Ausgetragenes Bibliotheksexemplar mit Inventaraufkleber auf Rücken und Vorsatz. Leihkarte in Tasche am Nachsatz. In sehr gutem Zustand. DE-10-19e Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 435.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1989
ISBN 10: 0792390253 ISBN 13: 9780792390251
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation Cheng, Kwang-Ting and Vishwani D. Agrawal
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: gut. 1989. Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation In englischer Sprache. pages.
