9780792350071 - fundamental aspects of ultrathin dielectrics on si-based devices (nato science partnership subseries: 3, 47, band 47) (3 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 1998
Serie: Nato Science Partnership Subseries: 3, Buch 16 von 26. Buch 16 von 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 1998
Serie: Nato Science Partnership Subseries: 3, Buch 16 von 26. Buch 16 von 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about th…e exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
Serie: Nato Science Partnership Subseries: 3, Buch 16 von 26. Buch 16 von 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
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Zustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices: Towards an Atomic Scale Understanding, St. Petersburg, Russia, August 4-8, 1997 Editor(s): Garfunkel, Eric; Gusev, Evgeni; Vul', Alexander Ya. Series: NATO Science Partnership Subseries: 3. Num Pa…ges: 507 pages, 114 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 170 x 28. Weight in Grams: 962. . 1998. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
