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9780792350071 - Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices (NATO Science Partnership Subseries: 3, 47, Band 47) (3 Ergebnisse)
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices (NATO Science Partnership Subseries: 3, 47)
Buch 16 von 26: Nato Science Partnership Subseries: 3Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
Buch 16 von 26: Nato Science Partnership Subseries: 3Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 1998
ISBN 10: 0792350073 ISBN 13: 9780792350071
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on SI-Based Devices
Buch 16 von 26: Nato Science Partnership Subseries: 3Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792350073 ISBN 13: 9780792350071
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices: Towards an Atomic Scale Understanding, St. Petersburg, Russia, August 4-8, 1997 Editor(s): Garfunkel, Eric; Gusev, Evgeni; Vul', Alexander Ya. Series: NATO Science Partnership Subseries: 3. Num Pages: 507 pages, 114 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 170 x 28. Weight in Grams: 962. . 1998. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
