ISBN: 9780750308120 - electron microscopy and analysis 2001: proceedings of the institute of physics electron microscopy and analysis group conference, university of ... (institute of physics conference, band 168) (6 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2001
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2001
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
- Hardcover
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Verlag: CRC Press, 2001
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
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Zustand: New. M. Aindow. C.J. Kiely, Dept of Engineering, University of Liverpool, UK.Electron microscopy is now a mainstay characterization tool for solid state physicists and chemists as well as materials scientists. Electron Microscopy and Analysis 2001 presents a.
Sprache: Englisch
Verlag: Inst of Physics Pub Inc, 2002
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2001
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd Dez 2001, 2001
Serie: Buch 2 von 3 - Institute of Physics Conference Series
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Electron microscopy is now a mainstay characterisation tool for solid state physicists and chemists as well as materials scientists. This conference proceedings provides a useful snapshot of the latest instrumentation and state-of-the-art analysis techniques available to researchers in these fields.…
