ISBN: 9780735404410 - frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics: 2007 international conference on frontiers of characterization and metrology for ... (aip conference proceedings, 931, band 931) (1 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Sehr gut
SonderangebotAktueller Preis: EUR 173,66
EUR 105,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 578 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
