9780521848756 - electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology von reed, s. j. b. (6 Ergebnisse)
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Zustand: New. This 2005 book covers principles and techniques of EMPA and SEM for geological graduate students and postdoctoral workers. Num Pages: 232 pages, 260 b/w illus. 8 colour illus. BIC Classification: PDND; RBGG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 255 x 182 x 15. Weight in Grams: 584. . 2005. 2nd Editio…n. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 189 pages. 10.00x7.25x0.50 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target int…eractions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories.
