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9780521599443 - Electron Microprobe Analysis: Second Edition von Reed, S. J. B. (5 Ergebnisse)
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Electron Microprobe Analysis (Second Edition)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1997
ISBN 10: 052159944X ISBN 13: 9780521599443
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Electron Microprobe Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1997
ISBN 10: 052159944X ISBN 13: 9780521599443
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Electron Microprobe Analysis: Second Edition
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1997
ISBN 10: 052159944X ISBN 13: 9780521599443
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. 1993 paperback of successful physics monograph on electron microprobe analysis, a widely used technique. Num Pages: 350 pages, 12 colour illus. BIC Classification: PDND; PNFS; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 229 x 152 x 20. Weight in Grams: 510. . 1997. 2nd Edition. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Electron Microprobe Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 052159944X ISBN 13: 9780521599443
Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 350 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | 1993 paperback of successful physics monograph on electron microprobe analysis, a widely used technique.
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Electron Microprobe Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1997
ISBN 10: 052159944X ISBN 13: 9780521599443
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This 1993 book gives a comprehensive account of both experimental and theoretical aspects of electron microprobe analysis, and is an extensively updated version of the seminal first edition, published in 1975. The design and operation of the instrument, including the electron column and both wavelength- and energy-dispersive X-ray spectrometers, are covered in the first part of the book. Experimental procedures for qualitative and quantitative analysis, using both types of spectrometer, are then discussed. Matrix ('ZAF') corrections, as required for quantitative analysis, are treated in some detail from both theoretical and practical viewpoints. Special considerations applying to the analysis of 'light' elements (atomic number below 10) are covered in a separate chapter. The emphasis throughout is on a sound understanding of principles and the treatment is applicable equally to the electron microprobe in its 'classical' form and to scanning electron microscopes fitted with X-ray spectrometers.
