9780521554909 - characterization of high tc materials and devices by electron microscopy von edited by nigel d. browning , stephen j. pennycook (7 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes KönigreichAnybook.com
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Befriedigend
EUR 4,20
EUR 15,90 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521554909.
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 82,30
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 124,04
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Sehr gut
EUR 40,84
EUR 105,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 180,77
EUR 14,00 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USAKennys Bookstore
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 248,00
EUR 9,24 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 2…4. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
- Weitere Bilder
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 235,34
EUR 64,39 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy… and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques, and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunnelling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included.
