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9780521482660 - Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis von Zhong Lin Wang (6 Ergebnisse)
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Dust jacket in good condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521482660.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. Num Pages: 458 pages, 224 b/w illus. 10 tables. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 25. Weight in Grams: 1097. . 1996. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 436 pages. 10.25x7.25x1.00 inches. In Stock.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521482666 ISBN 13: 9780521482660
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.
