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9780521461962 - Photo-induced Defects in Semiconductors Hardback: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) von Redfield; Bube... (8 Ergebnisse)
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 1.06.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 5,36
EUR 14,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:0521461960.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Dust jacket in good condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,600grams, ISBN:9780521461962.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 2016
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 155,07
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 217 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringVerlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521461960 ISBN 13: 9780521461962
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.
