Isbn: 9780471498711 - esd in silicon integrated circuits (10 Ergebnisse)

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    Verlag: John Wiley & Sons, 2002

    0471498718 / 9780471498711

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    Verlag: John Wiley & Sons, 2002

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    Gebunden. Zustand: New. As high density circuits move deeper into submicron dimensions Electrostatic Discharge (ESD) effects become an increasing concern. This new edition of a classic reference presents a practical and systematic approach to ESD device physics, modelling and desi.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: John Wiley & Sons Inc, 2002

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    Hardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 412 pages. 9.85x6.85x1.15 inches. In Stock.

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    Verlag: John Wiley & Sons Mai 2002, 2002

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    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Zustand: Neu. Neuware - Thema dieses Buches sind elektrostatische Entladungseffekte (ESD) in integrierten Siliciumschaltkreisen, die sich zu einem wesentlichen Problem der modernen hochintegrierten Schaltungen mit Strukturbreiten in Sub-Mikrometer-Dimensionen entwickelt haben. Diese 2. Auflage des klassischen Handbuchs liefert einen kompletten Überblick über alle Aspekte des ESD und die unmittelbaren Folgerungen für Entwurf und Entwicklung neuer Schaltkreise und Technologien. Die Hälfte des Materials wurde neu aufgenommen. das Autorenteam wurde um drei international anerkannte Experten erweitert.…

  • Sprache: Englisch

    Verlag: John Wiley and Sons Ltd, 2002

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    Zustand: New. aeo Examines the various methods available for circuit protection, including coverage of the newly developed ESD circuit protection schemes for VLSI circuits. aeo Provides guidance on the implementation of circuit protection measures. aeo Includes new sections on ESD design rules, layout approaches, package effects, and circuit concepts. Num Pages: 422 pages, illustrations. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 245 x 177 x 30. Weight in Grams: 928. . 2002. 2nd Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. …