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9780470978696 - Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (The Wiley Microsystem and Nanotechnology Series) von Asundi, Anand (6 Ergebnisse)
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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (The Wiley Microsystem and Nanotechnology Series)
Anbieter: AwesomeBooks, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology (The Wiley Microsystem and Nanotechnology Series)
Anbieter: Bahamut Media, Reading, Vereinigtes Königreich
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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology
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Digital Holography for Mems and Microsystem Metrology
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Zustand: New. By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation and device testing and inspection. Editor(s): Asundi, Anand. Series: Microsystem and Nanotechnology Series (ME20). Num Pages: 232 pages, Illustrations. BIC Classification: TGMT1; TJ. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 237 x 164 x 19. Weight in Grams: 486. . 2011. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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