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9780470638828 - Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications von Haugstad, Greg (8 Ergebnisse)
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Hardcover. Zustand: Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012
ISBN 10: 0470638826 ISBN 13: 9780470638828
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Atomic Force Microscopy
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Atomic Force Microscopy
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. GREG HAUGSTAD, PhD, is a technical staff member and Director of the Characterization Facility in the College of Science and Engineering at the University of Minnesota. He has collaborated with industry professionals on such technologies as medical X-ray ima.
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Atomic Force Microscopy Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 520 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). Num Pages: 488 pages, Illustrations. BIC Classification: PDND; TBN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 29. Weight in Grams: 834. . 2012. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware.
