9780444884299 - defect control in semiconductors: international congress proceedings (2 Ergebnisse)
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gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 1746 Seiten; durchgehende Zählung; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. KOMPLETTPREIS für 2 Bände; bei Ver…sand außerhalb der EU erfragen Sie bitte zuerst die Versandkosten; Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 4600.
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Zustand: gut. 1990. Defect Control in Semiconductors: Proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors The Yokohama 21st Century Forum Yokohama, Japan, September 17-22, 1989 (2 vols.set/ 2 Bände KOMPLETT) In englischer Sprache. pages.
