Isbn: 9780443341892 - fundamentals of microstructural characterization of materials (2 Ergebnisse)

ISBN: 
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (2)

  • Neu (2)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science, 2025

    0443341893 / 9780443341892

    • Softcover

    Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 176,15

    EUR 48,99 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. Covers a wide range of concepts and techniques for the accurate characterization of the microstructure of a variety of materials, including metals, ceramics, and polymersOutlines spectroscopic, scanning electron microscope, X-ray diffractio.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science & Technology, Elsevier Nov 2025, 2025

    0443341893 / 9780443341892

    • Softcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 245,92

    EUR 35,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials is an essential resource for understanding the various techniques and methods used in material characterization. This book delves into spectroscopic methods involving electromagnetic radiation, X-ray photoelectron analysis, atomic emission spectroscopy, and more. It provides thorough explanations of scanning electron microscopy and sample preparation techniques, including cutting, grinding, polishing, and etching.Other important points covered in the book include microscopy fundamentals such as lens types, optical image formation principles, depth of field, and depth of focus. Statistical analysis methods, including cumulative distribution function, probability density function, and Gaussian distribution, are also discussed. Additionally, the application of X-ray diffraction in phase analysis of materials is explored in detail.…