9780387747460 - emerging nanotechnologies: test, defect tolerance, and reliability (frontiers in electronic testing, 37, band 37) (3 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 19 von 40. Buch 19 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 100,48
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 19 von 40. Buch 19 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 165,79
EUR 13,99 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 19 von 40. Buch 19 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 240,67
EUR 14,60 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 405 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.