9780323241434 - new approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ulsi devices (micro and nano technologies) von zalevsky, dr. zeev (3 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: William Andrew Pub, 2013
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 39,67
EUR 11,68 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 110 pages. 9.09x6.00x0.25 inches. In Stock.

Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier, 2013
- Softcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 45,44
EUR 7,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New. pp. 110.

Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science, 2013
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 40,85
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Zeev Zalevsky (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2013 | Elsevier Science | EAN 9780323241434 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsicherheit[at]ze…itfracht[dot]de | Anbieter: preigu.