ISBN: 9780323241434 - new approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ulsi devices (micro and nano technologies) (2 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: William Andrew Pub, 2013
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science, 2013
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Taschenbuch. Zustand: Neu. New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Zeev Zalevsky (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2013 | Elsevier Science | EAN 9780323241434 | Verantwortliche Person für die EU: Elsevier B.V., Radarweg 29, 1043 NX AMSTERDAM, NIEDERLANDE, productsafety[at]elsevier[dot]com | Anbieter: preigu. …
