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9780323241434 - New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies) von Zalevsky, Dr. Zeev (3 Ergebnisse)
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New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-scale Ulsi Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Zeev Zalevsky (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2013 | Elsevier Science | EAN 9780323241434 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
