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9780262060967 - Logic Testing and Design for Testability (Mit Press Series in Computer Systems) von Fujiwara, Hideo (2 Ergebnisse)
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Logic Testing and Design for Testability; Mit Press Series in Computer Systems;
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 284 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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MIT Press Series in Computer Systems: Logic Testing and Design for Testability
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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