9780262060967 - logic testing and design for testability (mit press series in computer systems) von fujiwara, hideo (2 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: MIT Press, 1985

      0262060965 / 9780262060967

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      gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 284 Seiten; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: The MIT Press, 1985

      0262060965 / 9780262060967

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