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9780198501893 - Defect and Microstructure Analysis by Diffraction (INTERNATIONAL UNION OF CRYSTALLOGRAPHY MONOGRAPHS ON CRYSTALLOGRAPHY, Band 10) von Snyder, R. L.; Bunge, Hans J.;... (2 Ergebnisse)
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction (International Union of Crystallography Monographs on Crystallography)
Sprache: Englisch
Verlag: International Union of Crystallography, 2000
ISBN 10: 0198501897 ISBN 13: 9780198501893
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction. Editor(s): Snyder, Robert; Fiala, Jaroslav; Bunge, Hans J. Series: International Union of Crystallography - Monographs on Crystallography. Num Pages: 808 pages, numerous line figures. BIC Classification: PNT. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 238 x 164 x 49. Weight in Grams: 1292. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
