Isbn: 9780120299126 - advances in optical and electron microscopy (1 Ergebnisse)

Zustand: Gut. Formateinband: Pappband / gebundene Ausgabe XII, 363 S. (24 cm) 1st Edition; (With many figures); Sauberes Exemplar aus Institutsbibliothek mit den üblichen Schildchen und Stempeln; sonst tadellos. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 800 [Stichwörter: Invention of the Electron Fresnel Interference Biprism, Electron Image Plane Off-axis Holography of Atomic Structures, Magnetic Through-the-lens detection in electron microscopy and spectroscopy, Advances in voltage-contrast detectors in scanning electron microscopes, Scanning Near-field optical microscopy (SNOM), Microscopic thermal wave non-destructive testing].…