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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM): Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM)
Sprache: Englisch
Verlag: VDM Verlag Dr. Müller|VDM Verlag Dr. Müller e.K., 2008
ISBN 10: 3639024613 ISBN 13: 9783639024616
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In den WarenkorbZustand: New. The atomic force microscope (AFM) was originally utilised for its imaging capabilities. The full potential of the AFM as a three-dimensional force profiling instrument is only now being realised in an increasingly broad range of fields. One of the key requi.
