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Zustand: Bueno. : Este libro ofrece una visión exhaustiva de los avances recientes en la comprensión de los defectos eléctricamente activos en materiales microelectrónicos, centrándose principalmente en la microelectrónica basada en silicio. La obra pone especial énfasis en aquellos defectos que limitan la calidad, fiabilidad, capacidad de fabricación y respuesta a la radiación de los dispositivos.A través de las perspectivas de destacados teóricos e investigadores, se analizan los defectos en aislantes y semiconductores, así como los mecanismos de fallo relacionados con el hidrógeno. Además, el texto explora materiales semiconductores compuestos para aplicaciones microelectrónicas y examina nueva información obtenida a partir de modelos físicos y de ingeniería, siendo una referencia esencial para ingenieros y científicos del sector. EAN: 9780367386399 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Defects in Microelectronic Materials and Devices Autor: Daniel M. Fleetwood| Sokrates T. Pantelides| Ronald D. Schrimpf Editorial: CRC Press Idioma: en Páginas: 770 Formato: tapa blanda.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Zustand: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
