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Hardware and Software: Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised ... (Lecture Notes in Computer Science, 6504)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Hardware and Software: Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2012
ISBN 10: 3642195822 ISBN 13: 9783642195822
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2011 edition. 208 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Theory and Practice of Quality Assurance for Machine Learning Systems: An Experiment-driven Approach
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Nature New York Inc, 2024
ISBN 10: 3031700074 ISBN 13: 9783031700071
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 194 pages. 9.44x6.61x9.45 inches. In Stock.
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Hardware and Software: Verification and Testing : 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642195822 ISBN 13: 9783642195822
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the thoroughly refereed post-conference proceedings of the 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, held in Haifa, Israel in October 2010.The 10 revised full papers presented together with 7 invited papers were carefully reviewed and selected from 30 submissions. The papers address all current issues, challenges and future directions of verification for hardware, software, and hybrid systems and have a research focus on hybrid methods and the migration of methods and ideas between hardware and software, static and dynamic analysis, pre- and post-silicon.
