Mulvey sheppard (3 Ergebnisse)
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: London & San Diego : Academic Press, 1991
- Hardcover
Anbieter: avelibro OHG, Dinkelscherben, Deutschlandavelibro OHG
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenVerbandsmitglied: BOEV
Zustand: Gebraucht - Gut
EUR 28,00
EUR 10,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
23,5 x 15,5 cm. Zustand: Gut. Volume 12. XII, 363 Pages ; With Figures Original Hardcover (Pappband) mit Bibliotheksrückenschild im sehr guten Zustand, innen mit Bibliotheksstempeln. Englische Sprache. - Original Hardboard with Library label on back in very good condition, inside with Library stamps. English Language B14-02-01G|…S80 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 690.
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: London & San Diego : Academic Press, 1989
- Hardcover
Anbieter: avelibro OHG, Dinkelscherben, Deutschlandavelibro OHG
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenVerbandsmitglied: BOEV
Zustand: Gebraucht - Gut
EUR 28,00
EUR 10,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
23,5 x 15,5 cm. Zustand: Gut. Volume 11. XI, 185 Pages ; With Figures Original Hardcover (Pappband) mit Bibliotheksrückenschild im sehr guten Zustand, innen mit Bibliotheksstempeln. Englische Sprache. - Original Hardboard with Library label on back in very good condition, inside with Library stamps. English Language B12-02-01B|S…78 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 458.
- Hardcover
- Erstausgabe
Anbieter: Antiquariat Smock, Freiburg, DeutschlandAntiquariat Smock
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 40,00
EUR 34,20 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Gut. Formateinband: Pappband / gebundene Ausgabe XII, 363 S. (24 cm) 1st Edition; (With many figures); Sauberes Exemplar aus Institutsbibliothek mit den üblichen Schildchen und Stempeln; sonst tadellos. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 800 [Stichwörter: Invention of the Electron Fresnel Interference Biprism, Electron… Image Plane Off-axis Holography of Atomic Structures, Magnetic Through-the-lens detection in electron microscopy and spectroscopy, Advances in voltage-contrast detectors in scanning electron microscopes, Scanning Near-field optical microscopy (SNOM), Microscopic thermal wave non-destructive testing].
